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本社における外側マイクロメータの一般校正範囲拡張について
JEMIC本社の長さ区分におきまして、外側マイクロメータの一般校正について300 mmまで校正範囲を拡張いたしましたので、お知らせいたします。替アンビル式外側マイクロメータにつきましても、対応いたします。是非ご利用ください。
校正範囲及び拡張不確かさ
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| 校正場所 | 校正範囲 | 拡張不確かさ （ 信頼の水準約95 ％ ） |
| 恒久的施設校正 | 100 ｍｍ超過 300 mm以下 | 14 µm |
- ・セット校正を用意しています。
- ・替アンビル式外側マイクロメータにつきまして
- 外側マイクロメータと組み合せ、最小の測定範囲でのセット校正を行います。
替アンビルの２本目以降は、基点誤差のみの測定になります。
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