JEMICでは,デプスゲージ,デプスマイクロメータ,シックネスゲージの校正を新たに開始しました。是非ご利用ください。
校正内容 | 校正範囲 | 校正の不確かさ(k = 2) |
---|---|---|
器差(提出校正) | 150 mm以下 | 0.03 mm |
器差(巡回校正) | 150 mm以下 | 0.04 mm |
例:(セット校正※)2,000円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。
※ 校正手数料を改正しております。
詳しくは以下までお問い合わせください。
校正内容 | 校正範囲 | 校正の不確かさ(k = 2) |
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器差 | 25 mm以下 | 5 μm |
例:(セット校正※)3,600円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。
※ 校正手数料を改正しております。
詳しくは以下までお問い合わせください。
校正内容 | 校正範囲 | 校正の不確かさ(k = 2) |
---|---|---|
器差 | 50 mm以下 | 0.010 mm |
例:(セット校正※)2,400円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。
※ 校正手数料を改正しております。
詳しくは以下までお問い合わせください。
本社 標準部 校正サービスグループ
TEL:03-3451-6760 FAX:03-3451-6910
E-mail: kousei-info@jemic.go.jp
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