JEMIC本社の長さ区分におきまして、外側マイクロメータの一般校正について300 mmまで校正範囲を拡張いたしましたので、お知らせいたします。替アンビル式外側マイクロメータにつきましても、対応いたします。是非ご利用ください。
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校正場所 | 校正範囲 | 拡張不確かさ ( 信頼の水準約95 % ) |
恒久的施設校正 | 100 mm超過 300 mm以下 | 14 µm |
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